Основная информация
Направления применения
Зондовые столы серии CP300 предназначены в первую очередь для тестирования чипов на 300‑мм пластинах и широко применяются в таких областях, как DC‑IV/DC‑CV и импульсные измерения IV, проверка кремниевых оптоэлектронных устройств, радиочастотные и миллиметровые измерения, а также четырёхпортовые измерения. Оборудование поддерживает верификацию и анализ отказов ИС в условиях широкого диапазона температур, соответствует требованиям испытаний надёжности на уровне пластины и может быть интегрировано с микропозиционерами, зондовыми картами и различными измерительными приборами для обеспечения эффективных и стабильных измерений непосредственно на подложке.
Технические особенности
1. Разработан специально для различных приложений тестирования микросхем
Поддерживает анализ DC‑IV/CV, импульсных IV‑характеристик и кремниевых оптоэлектронных устройств; совместим с тестированием в радиочастотном диапазоне, миллиметровых волнах и четырёхпортовом режиме. Позволяет проводить верификацию проектирования ИС и выполнять широкополосный анализ отказов при температурах от −60 °C до 300 °C, а также испытания на надёжность на уровне подложки (wafer‑level).
2. Высокая совместимость и возможности расширения и обновления
Совместим с микропозиционерами и индивидуальными зондовыми картами, обеспечивает стабильную работу при низких температурах; поддерживает программируемую автоматизацию микроскопа; короткие кабели и оптимизированные мм‑диапазонные тракты гарантируют высокую точность сигнала; позволяет осуществлять бесперебойное межчиповое измерение в режиме 7×24.
3. Соответствует эргономичному дизайну
Удобная загрузка с лицевой стороны, встроенная пассивная виброизоляция; стабильная подача образцов, простота интеграции и меньшая занимаемая площадь; специализированная приборная стойка сокращает длину проводки, что дополнительно повышает точность измерений.
Конструктивные особенности CP-300
