Основная информация
Направления применения
Контактный разъём CB‑40 подходит для тестирования полупроводниковых пластин, измерений на чипах непосредственно в сборке, испытаний постоянного и радиочастотного сигнала, а также для высокоточной позиционной установки в лабораторных условиях. Может использоваться с различными зондирующими стендами, обеспечивая выполнение задач по высокоточному тестированию микросхем и анализу их надёжности.
Преимущества продукта
• Доступны несколько уровней точности перемещения, что позволяет удовлетворять различные требования к точности измерений.
• Поддерживает работу в двух режимах — постоянного тока и радиочастотном, обладает высокой универсальностью.
• Линейное перемещение — плавное, четырёхмерная регулировка — точная, позиционирование — стабильное.
• Регулировка по осям X‑Y‑Z с большим ходом, подходит для большего числа точек измерения
• Доступны магнитное и вакуумное крепление; быстрая установка, надёжная фиксация