Обзор продукта
Аппаратура системы локализации микротечений тока EMMI — важнейший инструмент анализа отказов в интегральных схемах; определение места утечки тока является незаменимым средством для специалистов по анализу отказов. В процессе эксплуатации микросхемы явление микротечений тока довольно широко распространено; при экстремальных условиях даже слабые утечки могут неограниченно усиливаться, приводя к выходу из строя самой микросхемы или даже всего системы управления. Поэтому выявление и локализация микротечений тока играют чрезвычайно важную роль в анализе отказов интегральных схем.
Применение и производительность
В рамках анализа отказов устройств на основе полупроводников с широкой запрещённой зоной (например, GaN и SiC) компания представила тестовую систему EMMI с диапазоном спектральной чувствительности 400–1000 нм, позволяющую с высокой точностью локализовать места утечек тока в микроамперном диапазоне на таких микросхемах, как GaN‑HEMT, GaN‑светодиоды, SiC‑фотодиоды, SiC‑pn‑переходы, кремниевые МОП‑транзисторы и интегральные схемы. Система обладает пространственным разрешением менее 1 мкм и способна формировать изображения даже крайне слабых световых сигналов.
Тестовый кейс
GaN‑PD
Светодиоды на основе нитрида галлия
Si MOSFETы
Си ФРД
Си IGBT