-
-
Криогенная низковакуумная зондовая платформа с высокой и низкой температурой
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная и низкотемпературная зондовая платформа серии CGO
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа с замкнутым циклом серии CRX
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M001
Подробнее
-
Вакуумная высокотемпературная зондовая платформа M002
Подробнее
-
Криогенная сверхпроводящая вакуумная зондовая платформа CRX-SM
Подробнее
-
Приборная установка для анализа микротечений фотонов EMMI
Подробнее
-
Прибор для тестирования полупроводниковых параметров FS-Pro
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрической проводимости TF Analyzer 1000
Подробнее
-
Анализатор пьезоэлектрических свойств TF Analyzer 2000E
Подробнее
-
Сигнальные/спектральные анализаторы серии 4051A/B/C/D/E–S
Подробнее
-
Термоэлектрический вольтамперометр TF Analyzer 3000
Подробнее
Продукт
-
-
-
-
-
Продукт
Продукт
Продукт
Полуавтоматическая зондовая платформа серии CP
Полуавтоматический зондовый стол CP200
Простота эксплуатации, высокая скорость и точность измерений, наличие функции отображения MAP‑карты.
После подключения к тестеру устройство автоматически выполняет измерение электрических параметров и функциональное тестирование различных транзисторных структур.
Полуавтоматический зондовый стол CP300
Ориентированный на 12‑дюймовый пластинка Требования к высокоточным испытаниям
Поддержка Сверхширокий температурный диапазон: от −60 °C до 300 °C Тестирование
Может удовлетворить Верификация дизайна ИС, анализ отказов, тестирование надёжности на уровне пластин Соблюдать строгие требования
Полуавтоматический зондовый стол CP300
Ориентированный на 12-дюймовый пластинка Требования к высокоточным испытаниям
Поддержка Сверхширокий температурный диапазон: от −60 °C до 300 °C Тестирование
Может удовлетворить Верификация дизайна ИС, анализ отказов, тестирование надёжности на уровне пластин Соблюдать строгие требования